PIN PROBE TESTER
PIN PROBE TESTER PIN PROBE TESTER – 란 무엇인가 ? 반도체 웨이퍼 조립공정 시작 전 수행되는 Probe Card Test 공정은 후공정 불량 비용을 좌우하는 핵심 단계입니다. Probe Card의 PIN이 Wafer Pad와 접촉하는 순간 발생하는 1차적으로 전기적 표면 변화를 2차적으로 기계적 특성 변화를 정밀 분석할 수 있는 시험 시스템이 Bruker 모델 UMT (Universal Mechanical Tester) 기반 …








