PIN PROBE TESTER

PIN PROBE TESTER 웨이퍼 조립공정 시작전, “PROBE CARD TEST” 검사 공정 장비에 사용되는 PIN에 대한 시험기 PIN PROBE TESTER 글로벌 BRUKER사의 한국대리점 입니다. 반도체 적용에 새로운 시험분석기가 있어 소개 드립니다. 웨이퍼 공정중, 웨이퍼 조립공정 시작 이전에, 나중에 발생할 양 불량시험에서의 비용과 시간을 줄이기 위하여 웨이퍼 조립공정 시작 전, Wafer Die들의 최종 양불량 시험 과정이 있고, 이 때 “PROBE …

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