NIKON사 NEXIV-3차원 가공성/표면 측정 검사기
NIKON사 NEXIV-3차원 가공성/표면 측정 검사기 용도에 따라 NEXIV 모델 VMR-H3030/ H3030 Z120 VMR- 3020/ 3020 Z120 VMR- 6555/ 6555 Z120 VMR-10080/ 10080 Z120 15:1( 또는 10:1)의 정교한 Zoom광학계와 고속의 Auto-focusing장치가 기본으로 장착된, 비접촉식 측정장비로 대면적의 샘플, 다수, 다량, 다점의시편에 대하여 신속-정확한 측정이 가능합니다. 적용: 1. PCB Pattern의 측정 검사 2. 반도체 패키지 3. 모재의 Printing Mask 4. Master instrument in a laboratory …






