모델 “Level AFM의 연구용 Version”
1.특징:
– 다양한 측정이 가능
Contact, dynamic (vibrating), lateral force, force spectroscopy, MFM mode
옵션 사항으로 EFM 을 측정할 수 있습니다.
2.사양 :
Lateral resolution: better than 5 nm(0.19nm)
Height resolution: better than 0.2 nm(0.026nm)
Maximum vertical scan range: 30 um (고객요구에 따라 확장 가능)
Maximum sample size: 4 x 4 cm
Manual positioning range: 5 x 5 mm
레이저 측정방식
3D, molecular grids 의 unit cell 지정이 가능한 소프트웨어
모델 “Level AFM의 교육용 Version-Eddy”
lateral resolution | better than 5 nm (at standard samples) |
|---|---|
height resolution | better than 0,4 nm (atomic steps) |
maximum scan range | 30 mm (standard, others possible on request) |
maximum sample size | 4 cm x 4 cm |
manual positioning range | 5 mm x 5 mm |
accessories | 130 cantilevers of different types, small empty cantilever boxes, tweezers, sample holders, over 15 different samples |
but also some more enhanced experiments like
force spectroscopy
모델 “Level AFM의 고진공 Version
-HV(High Vacuum)”
It ncludes a turbo molecular pump and an oil free pre-vacuum pump,
that evacuate the vacuum bell jar within less than 10 minutes to a pressure of 10-5 Torr.
The main application for this device is for samples, which have been prepared in HV chambers and cannot be stored
under ambient pressure for a long time without changing their surface properties.
Data Sheet:
- PLL based feedback control
- fast & reliable pumping system
- final pressure: 10-6 Torr
- pumping time: < 10 min
- scan range: 30 mm
- lateral resolution 5 nm
- height resolution: 0,4 nm
- frequency resolution: 0.2 Hz
Level AFM의 가격 정보
1. Eddy 교육용및,기초 연구용으로 sample set 이 포함되어있습니다.
판매가: 4천5백 만원 (부가세별도)
– 15 cantilevers
– 1 calibration grating UMG01
– 20 sample holders
– 2 sample boxes
- – Tweezers
2. Standard 연구용으로 다음과 같은 내용이 포함되어있습니다.
판매가: 6천만원 (부가세별도)
– Vibration isolation table(옵션)
– Hardware-linearized scanner
– Glass bell jar
- – 100 cantilevers
3. Spotty – high quality를 위해 다음과 같은 내용이 포함되어있습니다.
판매가: 9천만원~1억원 (부가세별도,아래사양 옵션)
– Vibration isolation table
– Hardware-linearized scanner
– Glass bell jar
– Value set of cantilevers
– Circular laser diode
– EFM incl. KPFM
– Computer system with intl. Support
– Two 19” TFT monitors
- – Full version of SPIP imaging Processor
STM(Scanning Tunneling Microscope)
STM(Scanning Tunneling Microscope)
Maximum Z-range: | 2 µm |
|---|---|
Maximum X- and Y-Range | >> 600 nm |
Noise in Z-direction | < 0.05 nm |
Noise X-direction | < 0.1 nm |
Current noise | < 20 pA |
Z-noise (approached) | < 200 pm |
Lateral / vertical resolution: | atomic |
Sample holder diameter | 12 mm |
- Golden (chemically resistive) vibration isolated
- STM body with implemented preamplifier
- Computer with PCI board based SPM controller
- Anfatec Scan & Anfatec Present
- 19 “ STM controller (extra low noise 24 bit converters)
- HV display for z-direction
- high voltage amplifiers for the x-y-tube scanning
- optional: PC controlled bi-potentiostat
- and electrochemical cell
Provided modes:
- constant height mode
- constant current mode
- distance spectroscopy of the tunneling
- tunneling voltage spectroscopy
- dI/dU spectroscopy
한미산업
1999년 개업 이후, 지난 30여년간
- 미.일.유럽 소재, Tribology(마찰/마모/윤활/CMP 연마), 스크래치, 고온 경도계, 베어링 시험기, 관련 유명 제조공급사인 BRUKER, PHOENIX Tribology, TABER, SHINTO Heidon, INNOWEP, AMTEC, TRICO사.
- 열분석기 관련 스위스 KEP 그룹의 SETARAM SETSAFE SETSMARMT, 일본 ENEOS MATERIALS사의 수지 열경화 시험기 등
최첨단 장비들을 국내에 소개 및 판매 기술 지원하여 왔으며, 또한 이기술을 바탕으로 일부 품목 제조를 통하여 국산화에도 노력하여 왔습니다. 앞으로도 더욱 노력하여 국내 기술 발전에 이바지 하도록 하겠습니다.
상호: 한미산업
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